Мастер-класс "Основы сверхвысокочастотных измерений"

20.07.2019

20 июля в 12:00 в НИЯУ МИФИ пройдет мастер-класс «Основы сверхвысокочастотных измерений» для учащихся 9 - 11 классов.

Вы познакомитесь с основным комплексом измерительного оборудования, ознакомитесь с самыми современными методиками проведения сверхвысокочастотных (СВЧ) измерений, которые проводят ученые, исследователи и студенты Наноцентра ИНТЭЛ НИЯУ МИФИ. Поучаствуете в сборке измерительных стендов для измерения вольт-амперных, вольт-фарадных характеристик и S-параметров. Сможете прикоснуться к основам одной из перспективных профессий будущего, связанной с нанотехнологиями.

Вход на мероприятие по предварительной регистрации на сайте Инженерные субботы http://is.educom.ru/ в соответствии с правилами регистрации и обозначенной для данного мероприятия целевой аудиторией..

На проходной НИЯУ МИФИ необходимо зарегистрироваться на месте.

Наличие ОРИГИНАЛА ПАСПОРТА РФ или свидетельства о рождении школьников и взрослых ОБЯЗАТЕЛЬНО.

Адрес: 115409, Москва, Каширское шоссе, 31, Приемная комиссия 

Проезд: ст. метро «Каширская», далее авт. 148, 275, 280, 298, 608, 709, 738, 742, 907; трол. 67, 71

до ост. «МИФИ» (одна остановка или от метро 10–15 мин. пешком).